Ipem-SP participa do 6º Seminário de Metrologia Legal, o MetroLegal 2023, na capital
Debater o futuro da metrologia legal e a sua importância em nossas vidas cotidianas foram os objetivos do 6º Seminário de Metrologia Legal, o MetroLegal 2023, realizado na segunda-feira, 6 de novembro, na capital, com a mesa de abertura composta pelo superintendente do Ipem-SP, Marcos Heleno Guerson de Oliveira Junior, e demais autoridades, entre elas, o presidente da Rede Metrológica do Estado de São Paulo (Remesp), Celso Scaranello, e da diretora do Departamento de Política de Propriedade Intelectual e Infraestrutura da Qualidade do Ministério do Desenvolvimento da Indústria, Comércio e Serviços do Governo Federal (MDIC), Juliana Ghizzi Pires.
O superintendente também foi o moderador da palestra de abertura sobre a Estratégia Nacional de Infraestrutura da Qualidade (ENIQ) e a modernização da metrologia legal com a diretora do Departamento de Política de Propriedade Intelectual e Infraestrutura da Qualidade do Ministério do Desenvolvimento da Indústria, Comércio e Serviços do Governo Federal (MDIC), Juliana Ghizzi Pires. Na ocasião foi abordada a estratégia nacional de Infraestrutura da Qualidade, seus desafios, avanços e estratégias.
Para ela, a “infraestrutura da Qualidade é uma ferramenta estratégica, de caráter transversal para apoio a políticas públicas e ao alcance das missões estabelecidas pelo Conselho Nacional de Desenvolvimento Industrial (CNDI)”, explica Juliana.
No painel denominado “Ações integradas de inovação tecnológica para a metrologia legal”, o diretor do Departamento de Tecnologia da Informação (DTIN) do Ipem-SP, Periceles José Vieira Vianna, apresentou o “Projeto Nuvem Metrológica” com a proposta de um sistema de banco de dados distribuído e iniciativas de integração de sistemas em órgãos públicos.
“A nuvem metrológica tem como objetivo agregar valor aos processos de negócio de todos os participantes do Ecossistema de Metrologia Legal em particular, com escalabilidade para atender às demandas da Metrologia Científica e Industrial em apoio à Infraestrutura de Qualidade do Mercado Nacional”, detalha Vianna.
O evento tem como finalidade mergulhar em sessões interativas, workshops práticos e estudos de caso envolventes com a finalidade de aprofundar o entendimento sobre a aplicação prática da metrologia legal em diversos campos e trocar informações e experiências com especialistas renomados da área.
O seminário terá continuidade nos dias 7 e 8 de novembro. No dia 8 será na sede do Ipem-SP com a temática “A metrologia legal na prática para oficinas permissionárias”. Na ocasião serão apresentadas boas práticas, conceitos gerais e esclarecimentos para empresas autorizadas para reparo em instrumentos sob controle metrológico legal.
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