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Ipem-SP realiza seminário em comemoração ao Dia do Metrologista
O Ipem-SP em comemoração ao Dia Nacional do Metrologista, realizou na quarta-feira, 26 de junho, no auditório Antônio Cortazzo, na sede da autarquia, seminário com o tema “A Metrologia como ferramenta de contribuição para a competitividade da indústria”, com a presença do secretário da Justiça e Cidadania (SJC) em exercício, Raul Christiano, e diversas outras autoridades, além de representantes de associações e empresas do segmento metrológico.
O evento teve como objetivo, proporcionar ao público interno da autarquia, série de palestras abordando assuntos variados dentro do campo da Metrologia, além da prestação de homenagem e reconhecimento a todos os profissionais da instituição, que exercem papel fundamental no segmento de metrologia na sociedade, cuja a missão é garantir confiança às medições.
Além do secretário em exercício da SJC, na mesa de abertura: o superintendente da autarquia, Marcos Heleno Guerson de Oliveira Junior; o presidente da Sociedade Brasileira de Metrologia (SBM), Rodrigo Costa Felix; o superintendente da Associação Brasileira de Avaliação da Conformidade (ABRAC), Masao Ito; e o presidente da Rede Metrológica do Estado de São Paulo (Remesp), Celso Scaranello.
Com a palavra, o superintendente Marcos Heleno Guerson, abriu o evento agradecendo pela presença e apoio do secretário, aos demais convidados da mesa e os presentes na plateia, além da participação de todo o público espectador interno. Prestigiou os profissionais de metrologia e a importância histórica de suas atuações na autarquia, em seguida, realizando seu pronunciamento.
“O Ipem teve um papel destacado desde sua origem na Metrologia Legal e vigilância de mercado, dois pontos principais da denominada Infraestrutura da Qualidade, mas os tempos exigem outras competências. A indústria necessita de um apoio metrológico que se traduza em valor efetivo, gerando competitividade, especialmente, levando em conta as tendências de mercado e impactos da revolução que estamos vivendo e atravessando. Por isso, a necessidade de desenvolvermos uma Metrologia Industrial que se traduza em apoio real para as empresas, trazendo mais qualidade para os produtos e serviços do mercado, com benefício para todos, empresas e consumidores. Uma das iniciativas neste sentido, é este seminário, precisamos discutir a metrologia industrial”, expressou o superintendente da autarquia.
O secretário da Justiça e Cidadania, em exercício, Raul Christiano, abordou o papel da Secretaria da Justiça e Cidadania diante da indústria: “Dentro desse movimento que está se constituindo a partir da valorização da ciência, da pesquisa e dos saberes, em relação a dar um tratamento de respeito cada vez maior para a sociedade, nós temos seguido as diretrizes do governador, Tarcísio de Freitas, em praticar revolucionariamente os 3 D’s: o diálogo, o desenvolvimento e a dignidade. Esses princípios se correlacionam diretamente com a metrologia industrial, que é fundamental para garantir precisão, confiabilidade e inovação nos processos industriais, promovendo um ambiente de constante melhoria e respeito aos padrões científicos e tecnológicos”.
Na sequência, foi dado início à execução da série de palestras, ministradas por convidados representantes de associações e instituições diversas do campo da Metrologia, com abordagem à diferentes temáticas. Confira a seguir, a programação:
– Palestra: Uma metrologia industrial para o século XXI
Palestrante: Marcos Heleno Guerson de Oliveira Junior, superintendente do Ipem-SP
– Palestra: O papel da metrologia na transformação para a indústria 4.0
Palestrante: Vitor Marcon, da WEG
– Palestra: Serviços tecnológicos na indústria 4.0
Palestrante: Marcelo Borges de Moura, do Senai;
– Palestra: A metrologia e novos métodos de medição para otimização dos processos de carregamento de líquidos
Palestrante: Wagner Huck, da Associação Brasileira de Terminais Líquidos – (ABTL)
– Palestra: A metrologia em sistemas de medição de vazão mássica de vapor d´água - transferência de custódia de energia térmica
Palestrantes: Edinaldo Pereira da Silva, Luiz Claudio Alves dos Santos e Cleiton Sebastião Rodrigues, da Petrocoque S/A Indústria e Comércio
– Palestra: A importância da rastreabilidade dos padrões utilizados em metrologia dimensional
Palestrante: Antonio Conejero, da Mitutoyo
– Mesa redonda: Novos equipamentos e tecnologias para melhorar a confiabilidade metrológica nas medições de fluidos, com mediação do presidente da Remesp, Celso Scaranello; e participação de Guilherme Quevedo, da Conaut; Francisco Aguilera, da Metroval; Fábio Paes Estevão e Ivan Ribeiro Mania, da Emerson.
Ao final do evento, o superintendente, Marcos Heleno Guerson realizou a entrega dos certificados aos respectivos convidados palestrantes, em seguida, fez o encerramento do evento, com agradecimentos e considerações finais.
Dia Nacional do Metrologista
Oficialmente, no Brasil, a data escolhida para comemorar o Dia Nacional do Metrologista é 26 de junho. Nesta data, em 1862, o Imperador Dom Pedro II promulgou a lei nº. 1175, pela qual o Brasil adotou o Sistema Métrico Decimal (em 1960, esse sistema seria substituído pelo Sistema Internacional de Unidades - SI, mais complexo e sofisticado). No país, a metrologia se confunde com o surgimento das primeiras instituições militares e superiores (universidades), das escolas de ofícios e do Observatório Nacional (Serviço da Hora).
Desde então a metrologia vem ocupando um espaço cada vez mais essencial na vida moderna. Hoje em dia, com o aumento do conhecimento tecnológico, em que o nível de detalhamento se tornou muito grande, tudo depende de medição: ela é garantia para relações de troca justas, base para regulamentação e fiscalização nas áreas de saúde, segurança e meio ambiente. Além de ser fonte permanente de qualidade, inovação e competividade para o desenvolvimento industrial.
A metrologia, geralmente conhecida como “ciência da medição”, ocorre sempre que há a necessidade de demonstrar confiança nas medições, para avaliar, controlar e coordenar. Seu problema central é a credibilidade, universalidade e qualidade dos resultados.
Em suas diversas áreas, seja na fiscalização dos instrumentos de medir, nas medições e ensaios realizados nos laboratórios do Ipem, vistorias em veículos que transportam produtos perigosos, avaliação da qualidade de produtos e serviços, dentre outros, os especialistas e técnicos do instituto do Estado de São Paulo estão ocupados com aplicação dos fundamentos da ciência metrológica a serviço da sociedade.
O Ipem-SP foi criado pelo o Decreto Estadual nº 47.927 de 24 de abril de 1967, no governado de Roberto Costa de Abreu Sodré, vinculado à Secretaria do Trabalho, Indústria e Comércio, com a finalidade de executar, nos termos da delegação do Instituto Nacional de Pesos e Medidas - INPM, os serviços técnico-administrativos de pesos e medidas. Em 1973, com a criação do Inmetro, recebeu a delegação daquela autarquia federal para continuar realizando as atividades de controle metrológico no estado. A autarquia federal coordena a metrologia científica e industrial e se divide em dois ramos: Laboratório Nacional de Metrologia e Rede Brasileira de Calibração. O primeiro é responsável pela realização, pela manutenção e pela disseminação das unidades do Sistema Internacional (SI), localizado no Rio de Janeiro. O segundo mantém uma gama de laboratórios espalhados por diversas regiões do País, para atender à demanda de serviços.
